一种芯片测试方法及装置、电子设备、存储介质

本发明实施例公开一种芯片测试方法及装置、电子设备、存储介质，涉及芯片测试技术领域，能够有效提高共模电压信号测试的准确性，使芯片测试结果和良率更准确。所述方法包括：向被测芯片发送配置参数，以使所述被测芯片对自身的目标电路模块中的共模电压信号进行测量和模数转换，得到第一信号值，所述第一信号值为数字信号；从所述被测芯片获取所述第一信号值；根据所述第一信号值是否处于预设范围内，确定所述被测芯片是否测试通过。本发明适用于芯片测试中。