用于量子测量系统的优化方法、电子设备及存储介质

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用于量子测量系统的优化方法、电子设备及存储介质
申请号:CN202510080487
申请日期:2025-01-17
公开号:CN120146207B
公开日期:2025-08-22
类型:发明专利
摘要
本申请提供一种用于量子测量系统的优化方法、电子设备及存储介质,涉及超导量子计算技术领域。用于量子测量系统的优化方法包括:初始化配置所述量子测量系统;确定所述量子测量系统中参量放大器的工作点参数种类和工作点参数空间;根据所述工作点参数种类和所述工作点参数空间,获取特征向量以构建多目标优化函数;根据所述多目标优化函数,优化所述工作点参数空间。优化方法通过建立系统化的多目标优化框架,利用先进的遗传优化技术,自动化并简化参量放大器的工作点的选取,实现大规模量子比特芯片的高效读取。
技术关键词
工作点 参量放大器 参数 脉冲 遗传优化技术 频率 量子比特芯片 量子态 量子计算技术 泵浦 微波源 幅值 滤波器 电子设备 功率 处理器 偏置点 遗传算法
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