多维度的芯片评测方法、装置及电子设备

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多维度的芯片评测方法、装置及电子设备
申请号:CN202510080793
申请日期:2025-01-17
公开号:CN119961126A
公开日期:2025-05-09
类型:发明专利
摘要
本申请公开了多维度的芯片评测方法、装置及电子设备,属于芯片评测技术领域。该方法包括:通过主模块对系统进行管理,其中,主模块包括集群管理模块、容器管理模块、日志模块、镜像管理模块和系统监控模块;通过分模块对待评测芯片进行评测,获得对应的多维度评测结果,其中,所述分模块包括训练分模块、推理分模块、基础规格分模块和算子分模块;基于多维度评测结果,判定所述待评测芯片的综合测评结果。本申请适配能力强,能够全面反映芯片性能及其生态适应能力。
技术关键词
评测方法 镜像管理模块 系统监控模块 指标 芯片 集群管理 日志 电子设备 评测技术 基准 并行策略 评测装置 容器 处理器 基础 仓库 优化器 接口
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