基于涡旋电磁波的目标缺陷检测方法

本发明属于三维雷达成像技术领域，公开了一种基于涡旋电磁波的目标缺陷检测方法，包括以下步骤：步骤1、用UCA产生涡旋电磁波；对于均匀圆阵，采用递增的相位调制激励方法产生涡旋电磁波；步骤2、背景对消；步骤3、结合涡旋电磁波与后向投影算法，提出改进的OAM‑BP算法。本发明方法集成了平面扫描技术、涡旋电磁波特性与后向投影算法的优势。通过平面扫描路径的精确控制，利用涡旋电磁波作为探测载体，实现了对材料内部缺陷的高灵敏度检测。并采用后向投影算法对采集到的散射信号进行处理，实现了缺陷图像的高分辨率重建。理论分析和数值计算都验证了该方法提高了检测的分辨率。