一种基于增强RTDETR的PCB缺陷检测方法

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一种基于增强RTDETR的PCB缺陷检测方法
申请号:CN202510085986
申请日期:2025-01-20
公开号:CN120070338A
公开日期:2025-05-30
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于增强RTDETR的PCB缺陷检测方法。包括:采集各种PCB缺陷图像数据进行分类和标注做成数据集;对数据集进行预处理以提高输入的图像数据的质量;构建增强RTDETR网络模型,包含创新模块全面跨阶段局部注意CCA模块和自适应的快速空间金字塔池化ASPPF模块;使用构建好的增强RTDETR模型用于学习缺陷的特征和类别。本发明通过全面跨阶段局部注意模块,增强了多尺度特征表达的融合能力和特征聚焦能力,提高了目标识别准确性和定位精准度;通过引自适应的快速空间金字塔池化,结合无参数注意力模块与自适应权重融合机制,增强了不同尺度特征图上细节信息的捕捉能力,提升了模型的目标物体感知能力及全局语义理解能力。
技术关键词
缺陷检测方法 残差模块 特征融合网络 特征提取网络 通道注意力机制 ResNet网络 尺寸特征 空间金字塔池化 上采样 语义特征 图像 前馈神经网络 分支 高斯滤波器 数据 解码器
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