一种基于FPGA的高光谱成像方法与系统

AITNT
正文
推荐专利
一种基于FPGA的高光谱成像方法与系统
申请号:CN202510093401
申请日期:2025-01-21
公开号:CN120008735A
公开日期:2025-05-16
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于FPGA的高光谱成像方法与系统,属于高光谱成像领域,包括数据采集和预处理、压缩感知、稀疏重建和输出模块;硬件设计集成了各种组件,如宽带光源、成像光学系统、用于波长分离的Echelle光栅衍射透镜、CMOS探测器、ADC(模拟数字转换器)和计算和控制单元,这些组件协同工作,用于高效的高光谱数据收集和处理;本系统通过使用啁啾光纤布拉格光栅(CFBG)来增强衍射成像、采用生成对抗网络(GANs)方法进行高光谱图像重建。本发明采用上述的一种基于FPGA的高光谱成像方法与系统,有效地结合了压缩感知、稀疏重建和基于GAN的增强技术,以在保持低硬件占用和确保实时处理能力的同时高精度重建原始高光谱数据。
技术关键词
光谱成像系统 啁啾光纤布拉格光栅 生成对抗网络 生成器网络 数字微镜器件 光谱成像方法 数字微镜设备 衍射透镜 CMOS探测器 宽带光源 生成式对抗网络 匹配追踪算法 数据 检测器 传感模块 编解码器架构 图像 优化吞吐量 模拟数字转换器
系统为您推荐了相关专利信息
1
输电线路多类别故障波形数据生成方法、系统、介质和计算机程序产品
数据生成模型 波形 数据生成方法 数据生成系统 线路
2
基于人工智能的CRRT数据全方位采集及优化处理系统
模型预测控制框架 深度强化学习 数据 局部线性嵌入算法 强化学习策略
3
基于数据增强和混合神经网络架构的供水管网漏损识别方法、装置、设备及介质
音频 混合神经网络模型 神经网络架构 管道 供水管
4
一种基于高光谱技术的绝缘子表面污秽检测方法及系统
绝缘子表面污秽 高光谱技术 分类识别模型 感兴趣区域提取 高光谱成像装置
5
基于低代码平台的智能测试数据生成和优化方法及系统
低代码平台 生成参数 文本生成模型 生成测试数据 机器可读程序
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号