产线视觉缺陷检测优化方法、计算设备及可读存储介质

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产线视觉缺陷检测优化方法、计算设备及可读存储介质
申请号:CN202510099088
申请日期:2025-01-22
公开号:CN120031823A
公开日期:2025-05-23
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种产线视觉缺陷检测优化方法、计算设备及可读存储介质,先通过收集到的产品数据库对大语言模型进行初步训练形成预训练的大语言模型,再在对视觉检测系统进行初步配置后就可以用于产品的缺陷检测,后续在检测到缺陷产品时还可将具有缺陷的产品图像数据与文本指导数据绑定形成二次训练数据对预训练后的大语言模型进行微调,实现对于模型优化,提升产品缺陷检测的准确性。当以待检产品的缺陷图像作为输入至大语言优化模型,通过大语言优化模型输出与缺陷图像对应的视觉检测流程及参数配置指导文本,输出形式基于大语言优化模型以对话呈现,完成对于各个流程及参数的引导式配置,降低产线人员的技术要求。
技术关键词
视觉缺陷检测 视觉检测系统 文本 产线 产品缺陷检测 图像 平台 参数 数据 人机交互界面 大语言模型 处理器 控制主机 脚本 可读存储介质 存储器 格式 滤波
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