摘要
本发明公开了一种LPDDR芯片的WCK‑ON值确定方法、系统、装置及存储介质,方法包括:获取LPDDR芯片的第一MR值;获取LPDDR芯片的第二MR值;将第一MR值和第二MR值分别与预设MR值进行比较得到第一比较结果;在第一比较结果表征第一MR值和/或第二MR值等于预设MR值、第二MR值更新的情况下,根据第一MR值和第二MR值确定第一CHS模式,根据第一CHS模式确定LPDDR芯片的第一WCK‑ON值;在第一比较结果表征第二MR值未更新的情况下,将第二MR值修正为第一MR值,根据第二MR值确定第二CHS模式,根据第二CHS模式确定LPDDR芯片的第二WCK‑ON值。能够同时兼容双Rank和单Rank的LPDDR芯片进行WCK‑ON值确定,测试成本低,减少方案切换问题导致的出错概率,提高WCK‑ON值确定的准确性。
技术关键词
LPDDR芯片
模式
存储器测试装置
处理器
数值
条目
程序
模块
可读存储介质
计算机
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目录
计算机存储介质
树形数据结构