用于芯片测试的测试码型确定方法及控制器、设备、介质

本申请公开了一种用于芯片测试的测试码型确定方法及控制器、设备、介质，涉及芯片测试技术领域。方法包括：依次基于不同类型的测试函数对待测芯片进行读写测试得到第一测试结果；当第一测试结果为1，判断第一读写测试处理不通过，检测出故障，响应于生成的第一报错信号，运行根据第一使能信号从多个候选测试算法中确定的第一目标测试算法，根据第一故障类型标志调用第一预设码型文件；依次基于第一预设码型文件的多个候选测试码型对待测芯片进行读写测试对应得到多个第二测试结果；根据第二测试结果将检测出故障的候选测试码型确定为第一目标测试码型，以对批量同类型的待测芯片进行不良品筛选测试。能提高选取目标测试码型的可靠程度和效率。