一种功率半导体器件老化在线诊断方法

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一种功率半导体器件老化在线诊断方法
申请号:CN202510106642
申请日期:2025-01-23
公开号:CN120009688A
公开日期:2025-05-16
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种功率半导体器件老化在线诊断方法,涉及电力电子领域,包括,集成智能传感器与老化测试电路,建立多物理场耦合仿真模型;基于多物理场耦合仿真模型,评估当前器件的老化状态,得到器件的健康指数;基于多维度数据矩阵,构建异常检测模型,输出异常检测结果;通过异常检测结果,预测半导体器件的失效概率和剩余使用寿命;基于预测半导体器件的失效概率和剩余使用寿命,生成维护建议;本发明根据预测结果生成维护建议,指导用户适时采取预防性维护措施,不仅提升了老化状态评估的准确性,还增强了故障预警的及时性,减少了因突发故障带来的经济损失和技术风险。
技术关键词
老化测试电路 在线诊断方法 功率半导体器件 预测半导体器件 剩余使用寿命 集成智能传感器 仿真模型 数据 物理 智能传感器网络 微型温度传感器 数字低通滤波器 仿真平台 协方差矩阵 指数 IGBT器件 特征值
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