摘要
本发明公开了一种芯片检测设备用机体结构,包含一外壳体、控制结构、若干个腔室、门板、散热板、抽屉,还包括:定点温控结构,抽屉的侧向上开设有若干透热槽,定点温控结构包含设置在腔室侧面上的穿位结构,穿位结构上设置有与透热槽相对应的固定结构;内定点到位结构,抽屉底部靠近散热板的一侧设置有一内凹槽,内定点到位结构包含设置在腔室内的一电拉件,电拉件的输出端上活动设置有一配合件,配合件通过一调向件调节方向,电拉件的上方设置有一电联动件,本发明能够提高测试数据的准确度。
技术关键词
芯片检测设备
温控结构
腔室
控制结构
机体
联动件
挡位
推动件
六角螺柱
电极片
散热板
外壳体
触点
冷气管
气筒
门板
凹槽
推杆
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