一种芯片原型验证方法、装置、电子设备和可读存储介质

本发明涉及芯片验证领域，公开了一种芯片原型验证方法、装置、电子设备和可读存储介质，包括：当分割次数达到预设次数阈值，且分割结果中的目标检查信息不满足要求时，确定与目标检查信息相关联的目标模块单元；其中，目标检查信息包括时钟交叉数量和未布线数量；确定目标模块单元在验证所用芯片中占用的目标资源的使用量；当目标资源的使用量小于单片验证所用芯片中对应的资源的使用限制值时，将目标模块单元强制约束至验证所用芯片中，以使新的目标检查信息满足要求。本发明中的方法可以减少分割的次数，节省分割消耗的时间，加快芯片原型验证测试效率，并且是自动进行的，无需人工手动操作，节省人力，同时提升芯片原型验证速度。