一种能够提高LED抗ESD性能的芯片制备方法

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一种能够提高LED抗ESD性能的芯片制备方法
申请号:CN202510115761
申请日期:2025-01-24
公开号:CN119967953A
公开日期:2025-05-09
类型:发明专利
摘要
本申请提供的一种能够提高LED抗ESD性能的芯片制备方法涉及光电子技术领域。该制备方法通过对反射镜介质层以及保护层进行高温退火,从而获得致密的表面形貌;利用ICP干法刻蚀提高反射镜导电通道的侧壁外观,降低侧壁粗糙度,加之设计电流传导更优的电极结构,能够减少保护层以及介质层导电通道的缺陷,降低电流传导时在芯片中的局部拥堵现象,从而提高芯片的抗ESD性能,提高产品良率。
技术关键词
电流扩展结构 欧姆接触层 反射镜 电流扩展层 晶体单元 耐压绝缘材料 电极结构 发光二极管芯片 侧壁粗糙度 衬底 介质 阻挡层 导电 拥堵现象 量子阱层 缓冲层 通道 银镜
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