半导体结构的制备方法和半导体结构

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半导体结构的制备方法和半导体结构
申请号:CN202510117354
申请日期:2025-01-24
公开号:CN120018603A
公开日期:2025-05-16
类型:发明专利
摘要
本发明涉及半导体技术领域,公开一种半导体结构的制备方法和半导体结构。半导体结构的制备方法包括:提供芯片;在芯片的表面形成暴露出芯片的待互联位置的光刻胶层;以光刻胶层为掩膜,在芯片的待互联位置形成打底层,打底层覆盖待互联位置及其临接的光刻胶层的侧壁呈凹槽状;在打底层的凹槽上形成互联电极柱,互联电极柱的至少部分结构位于凹槽内;去除光刻胶层。凹槽的侧壁对互联电极柱的至少部分结构起到加固保护作用,能够更好的分散光刻胶层对互联电极柱的牵引力,从而避免互联电极柱发生断裂或倾斜,提高互联电极柱高度的均匀性,进而提高半导体结构在进行互联工艺时的可靠性。
技术关键词
半导体结构 光刻胶层 芯片 电极柱 离子束 旋转件 磁控溅射工艺 凹槽 互联工艺 离子源 刻蚀工艺 托盘 掩膜
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