基于现场可编程门阵列的芯片可测性设计DFT系统及其方法

本公开涉及基于现场可编程门阵列的芯片可测性设计DFT系统及其操作方法。该方法包括：从外部主机接收模式控制命令，基于模式控制命令，生成用于指示芯片测试模式的测试模式指示信号，并且将所生成的测试模式指示信号发送到被测芯片(DUT)；从控制单元接收模式控制命令，根据模式控制命令生成用于第一测试模式的测试向量和第一测试信号；从控制单元接收模式控制命令，根据模式控制命令生成用于第二测试模式的测试命令和第二测试信号；从控制单元接收测试模式指示信号，并且根据接收到的测试模式指示信号，将测试向量和第一测试信号和/或测试命令和第二测试信号发送到DUT，使得DUT在第一测试模式和/或第二测试模式下被测试，并从DUT接收测试结果。