摘要
本发明公开了一种三维高精度实时漂移矫正方法与装置。本发明的方法首先使用获取初始图像并建立图像的轴向堆栈;其次对轴向堆栈进行分析,以确定图像的初始位置;然后对图像进行实时采集,使用互相关算法计算图像间的相对位移;最后根据相对位移,进行系统微调以实现亚纳米级的精确定位和漂移矫正。本发明的装置包括两个近红外激光光源,用于对样品和标记物进行照明;高帧率相机,用于捕获图像;压电纳米位移台,用于微调样本或光学系统的位置;处理器,配置有线性拟合算法和互相关算法,用于计算图像间的相对位移并控制压电纳米位移台进行微调。本发明实现了对样本位置的实时监测和校正,以补偿在长时间成像过程中可能发生的样本漂移。
技术关键词
线性拟合算法
图像
矫正方法
纳米级
位移台
光学系统
金纳米颗粒
性能监控
全内反射
计算机程序产品
处理器
样本
激光光源
成像
盖玻片
指令
系统为您推荐了相关专利信息
尺寸调控方法
导体
PID控制器
视觉
图像识别模块
破坏监测系统
无人机协同
监测单元
实时图像
数据分析单元