用于射频测量的硅基量子点芯片和射频测量结构

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用于射频测量的硅基量子点芯片和射频测量结构
申请号:CN202510126310
申请日期:2025-01-27
公开号:CN119968105A
公开日期:2025-05-09
类型:发明专利
摘要
本公开提供了一种用于射频测量的硅基量子点芯片和射频测量结构,可以应用于半导体量子计算技术领域。该硅基量子点芯片包括:基底,包括第一定位标记区,第一定位标记区设置有至少四个离子注入区;第一绝缘层,设置于基底上;欧姆接触层,设置于每个离子注入区的外围;多个电极层,设置于第一绝缘层上,每个电极层由多个纳米级的电极组成,相邻电极层之间均设置有绝缘层,多个电极层位于电极区,电极区位于第一定位标记区所在平面投射的中心位置,电极包括源/漏电极;其中,源/漏电极连接离子注入区靠近电极区的一端,相邻两个离子注入区靠近电极区一端的距离小于或等于10μm。
技术关键词
电极 量子点 屏蔽栅 定位标记 阻抗匹配电路 芯片 欧姆接触层 射频收发系统 量子计算技术 基底 纳米级 处理单元 信号 电容 半导体 谐振 电阻 频率 通道
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