一种芯片PD自动化测试治具

本发明提供了一种芯片PD自动化测试治具，包括联络单元主体组件，所述联络单元主体组件顶部安装测试对接组件，测试对接组件上方安装浮动头组件，联络单元主体组件通过测试对接组件安装至测试芯片分选机，测试芯片分选机两侧分别设有入料小车组件和出料小车。本发明有益效果：本测试治具可应用于半导体自动化行业，能够针对大功率和高电压芯片进行自动化测试，还能够抑制芯片PD测试放电现象，此外能够根据市场需要提升测试的效率，结构更为紧凑，还能够大大降低成本，避免操作人员受伤，并实现全自动化的测试流程，此外，本测试治具还能够朝着更高的自动化水平、安全性、智能化和高效能方向发展。