一种用于芯片测试插座的线针组件及方法

本发明涉及芯片测试插座技术领域，具体公开了一种用于芯片测试插座的线针组件及方法，包括：基座组件，其内部具有安装同轴线针的通孔；同轴线针，包括一体式连接的同轴线和弹簧探针，用于与基座组件连接；同轴线，用于与弹簧探针连接；弹簧探针，弹簧探针的上端中部设有爪头，爪头部分测试应用时与芯片接触，弹簧探针的下端中部开设有盲孔，下端两侧均开设有侧通孔，侧通孔与盲孔相连通；本发明通过设置的一体式同轴线针结构，与常见的分体式结构相比，能够实现芯片测试射频通道低驻波，低损耗的互连要求，相位一致性好。