一种芯片引脚点胶缺陷检测方法、装置及存储介质

本发明涉及电路板生产技术领域，公开了一种芯片引脚点胶缺陷检测方法、装置及存储介质，其中方法包括如下步骤：采集电路板的图像；定位图像中芯片及引脚区域的位置，并根据引脚区域的位置获取引脚区域的面积；根据芯片的位置定位芯片上的胶水区域；通过胶水流动性预测模型对引脚区域上的胶水区域的面积进行扩大；将引脚区域上的胶水区域扩大后的面积与引脚区域的面积进行比较，判断引脚区域是否存在点胶缺陷。该方法，通过以经过胶水流动性预测模型预测扩张后的胶水区域面积来判断芯片的引脚是否存在点胶缺陷，可以避免将静置一段时间后，胶水流动漫延开后的胶水面积符合要求的正常产品误检为缺陷产品，提高点胶缺陷检测效率和准确度。