测量低碳组分的质谱方法及低碳组分测量系统

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测量低碳组分的质谱方法及低碳组分测量系统
申请号:CN202510134437
申请日期:2025-02-07
公开号:CN119555857A
公开日期:2025-03-04
类型:发明专利
摘要
本发明属于柱色谱法技术领域,具体涉及一种测量低碳组分的质谱方法及低碳组分测量系统,本测量低碳组分的质谱方法包括:对样品中组分进行分离,以分离为若干色谱峰组;获取每个色谱峰组所对应的质谱图,并提纯各质谱图中特征离子峰;对各组分所对应的特征离子峰进行重构,以对质谱图去卷积;识别各组分所对应的物质;本发明能够缩短检测时间,满足快速检测的需求,同时通过提纯特征离子峰,能够有效去除背景干扰离子,显著提升质谱图的清晰度和信噪比,使提纯后的质谱数据更加适合于高效谱库检索和定量分析,并且结合特征离子重构与去卷积算法,能够在复杂谱图中精确分辨多组分,定性准确率高,定量误差低,显著提升结果的可靠性。
技术关键词
离子 柱色谱法技术 提纯 质谱仪 缩短检测时间 重构 定量误差 强度 噪声因子 时间段 色谱柱 卷积算法 基线 信噪比 曲线 信号
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