一种存在形变的基因芯片的曲面拟合成像方法及系统

本发明提供一种存在形变的基因芯片的曲面拟合成像方法及系统。曲面拟合成像方法包括：采集存在形变的基因芯片四个角上的十字标识并置于坐标系中，计算出十字标识在坐标系中的位置，根据其坐标等间隔生成均匀分布在基因芯片投影面上的预采样点，并获取所有预采样点对应的X轴和Y轴坐标位置；对基因芯片表面任一待评估点及其邻域范围内的若干预采样点，采用高斯曲率来估算待评估点处的局部曲率；根据采样点及其X轴、Y轴和Z轴坐标位置，采用径向基函数进行曲面拟合得到拟合后的曲面方程，后续向该曲面方程中输入任何一个点的X轴坐标和Y轴坐标就能算出对应的Z轴坐标。采用上述技术方案后，能够对存在形变的基因芯片进行快速曲面拟合成像。