芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质

本申请公开了一种芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质，涉及电子芯片技术领域。方法先使待测芯片在初始频率下运行测试程序，从而获取第一运行结果以及第一运行时长，基于第一运行结果确定待测芯片的第一等级；基于第一等级确定第一预设时间范围；在检测到第一运行时长超出第一预设时间范围的情况下，确定待测芯片的第一运行结果异常。而在检测到第一运行时长处于第一预设时间范围，且第一等级大于预设等级的情况下，使得待测芯片在极限频率下运行测试程序，获取第二运行结果，从而基于第二运行结果确定待测芯片的第二等级。本申请对芯片进行测试，并对芯片进行分级，并对芯片的分级进行验证，降低芯片分级出错的风险。