一种自动应答的BMU测量装置及测试方法

本发明旨在提供一种自动应答的BMU测量装置及测试方法。本发明包括待测试信号源，待测试信号源包括输入信号端和检测信号端，自动应答的BMU测量装置还包括自响应电路，自响应电路连接有运放增幅电路,运放增幅电路连接有MCU模组，MCU模组与上位机连接；自响应电路包括延迟芯片、第一电子开关、第二电子开关、第三电子开关以及场效应管，输入信号端经第一电阻与延迟芯片连接，延迟芯片经第二电阻与第一电子开关连接，第一电子开关经第二电子开关接入运放增幅电路,检测信号端经第三电阻与第三电子开关连接，场效应管的漏极与第一电子开关连接。本发明应用于BMU信号应答测试的技术领域。