摘要
一种星载处理器SiP结构,包括管壳结构、管芯、可伐环双腔结构;可伐环双腔结构安装在管壳结构的上表面,管壳结构的下表面底部挖腔;管芯包括SoC、SRAM、FLASH、接口芯片四种芯片;SRAM安装在可伐环双腔结构的左腔体内,FLASH和SoC安装在可伐环双腔结构的右腔体内,接口芯片安装在底部挖腔内;SoC通过数据线和地址线访问SRAM,通过地址线和数据线访问并行FLASH;SoC的功能引脚引出到管壳结构外部。采用可伐环加双腔结构,与现有其他SiP相比,器件集成密度更高,采用陶瓷封装材料,相比塑封器件可靠性更好。
技术关键词
星载处理器
管壳结构
热仿真分析
接口芯片
可靠性验证方法
信号完整性分析
陶瓷封装材料
陶瓷封装结构
管芯
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