工业表面缺陷检测方法、系统、设备及存储介质

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工业表面缺陷检测方法、系统、设备及存储介质
申请号:CN202510143103
申请日期:2025-02-10
公开号:CN120107175A
公开日期:2025-06-06
类型:发明专利
摘要
本发明涉及缺陷检测技术领域,公开了一种工业表面缺陷检测方法、系统、设备及存储介质。该方法包括接收输入的待检测工业产品表面图像并进行图像预处理,得到预处理后的表面图像;对预处理后的表面图像进行多尺度分解,得到不同尺度的图像;基于自适应局部对比度增强算法对不同尺度的图像进行处理,得到不同尺度的增强图像;对不同尺度的增强图像进行多尺度融合,得到目标增强图像;基于自适应阈值分割法对目标增强图像进行缺陷检测,得到缺陷候选区域。本发明中,通过多尺度分析和自适应局部对比度增强相结合的方式进行工业表面缺陷检测,有效提高了缺陷检测的准确性和鲁棒性,能够满足工业生产中实时检测的需求。
技术关键词
检测工业产品 表面缺陷检测方法 多尺度 对比度 累积分布函数 表面缺陷检测系统 双边滤波算法 图像增强模块 缺陷检测技术 高斯金字塔 加权平均法 灰度直方图 轮廓提取 电子设备 程序 处理器
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