磁性元件磁芯损耗预测方法、装置、设备及介质

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磁性元件磁芯损耗预测方法、装置、设备及介质
申请号:CN202510160846
申请日期:2025-02-13
公开号:CN120123855A
公开日期:2025-06-10
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种磁性元件磁芯损耗预测方法、装置、设备及介质,涉及元器预测技术领域,包括:通过获取磁性元件的磁通密度数据,对磁通密度数据进行提取,得到波形特征,将波形特征输入支持向量机模型,得到波形类别,根据波形类别通过预设磁芯损耗模型,得到磁芯损耗预测值,对磁通密度数据通过预设修正方程,得到误差值,基于磁芯损耗预测值和误差值,得到目标磁芯损耗值。通过分析磁通密度数据提取波形特征,利用SVM分类波形,结合预设磁芯损耗模型与修正方程计算损耗预测值及误差,最终确定目标磁芯损耗,提高了磁芯损耗预测的准确性和泛化能力。
技术关键词
损耗 磁性元件 波形 磁通 训练集数据 磁芯材料 支持向量机模型 多元线性回归模型 密度 方程 SVM分类 正弦波 数值 预测装置 模块 程序 处理器 频率
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