一种同轴光学组件光学轴位姿测量及装调的方法及系统

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一种同轴光学组件光学轴位姿测量及装调的方法及系统
申请号:CN202510163756
申请日期:2025-02-14
公开号:CN119642744B
公开日期:2025-05-09
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种同轴光学组件光学轴位姿测量及装调方法,采用基于干涉测量与亚波长结构的计算全息片结合的测量方式,分离各个光学组件的光学轴空间位姿,并将各个光学轴的空间位姿信息反映到干涉图中;结合基于深度学习的失调量参数解算方法,可以快速迭代、反馈光学组件的失调量,进而完成同轴光学组件的快速装调。本发明的优点在于采用基于干涉测量与亚波长结构的计算全息片结合的测量方式,在保证测量精度的同时,可以分离出各个光学组件的光学轴空间位姿信息;通过深度学习神经网络模型分析光学轴空间位姿与失调量之间的映射关系,提高空间位姿解算、迭代效率。
技术关键词
光学组件 全息片 神经网络模型 平面镜 干涉仪 镜片 旋转对称结构 数据处理单元 空间位姿解算 初始误差 参数解算方法 卷积网络模型 多项式 平面反射镜 干涉系统 控制单元 环形 方形
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