存储芯片干扰测试方法及装置、存储介质

本申请提出一种存储芯片干扰测试方法及装置、存储介质。该方法包括：建立存储芯片与测试平台之间的连接；向存储芯片所处环境引入干扰信号，所述干扰信号产生电磁场以使存储芯片处于电磁场的干扰环境中；按照预设规则调整干扰信号的预设特征，且在调整之后即向存储芯片发送访问指令，以使存储芯片根据访问指令进行数据读取、写入及擦除中的至少一项；控制测试平台获取存储芯片的访问结果的错误率和/或速度，并根据错误率和/或速度复现存储芯片的干扰因素。本申请可以灵活有效的模拟存储芯片在实际场景的干扰，较好的复现存储芯片可能遇到的性能问题，以此利于相关问题的快速定位和深入分析改进。