晶圆缺陷检测图像的处理方法、设备及计算机存储介质

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晶圆缺陷检测图像的处理方法、设备及计算机存储介质
申请号:CN202510167950
申请日期:2025-02-14
公开号:CN120125511A
公开日期:2025-06-10
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种晶圆缺陷检测图像的处理方法、设备及计算机存储介质。方法包括:通过计算晶圆缺陷检测图像所有像素点的灰度分布特征,确定目标熵值以及所述目标熵值对应的第一灰度划分阈值;确定第二灰度划分阈值;根据第一灰度划分阈值以及第二灰度划分阈值,对晶圆缺陷检测图像的所有像素点的灰度值进行划分,得到晶圆缺陷检测图像的多个灰度区间;根据多个灰度区间对应的不同预设灰度值调节策略,对多个灰度区间中像素点的灰度值进行对比度调节,得到对比度调节后的晶圆缺陷检测图像。根据本申请实施例,能够提升晶圆缺陷检测的精度。
技术关键词
晶圆缺陷检测 像素点 图像 计算机程序指令 分布特征 对比度 计算机存储介质 频率 计算机程序产品 可读存储介质 处理器 电子设备 策略 滤波 线性 序列 存储器 算法
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