一种大规模集成电路测试方法

本发明公开一种大规模集成电路测试方法，包括如下步骤：测试接口连接：从所有测试接口中选择同一位置的引脚作为该测试接口编号引脚，通过上拉电阻与电源相连；将与测试接口编号引脚对应的测试通道通过下拉电阻接地；编号引脚电压采集：获取待测测试接口的编号引脚电压；测试接口识别：根据有效编号引脚电压，计算得到该测试接口编号；测试用例自动选择与执行：根据测试接口编号，自动选择相应的测试用例执行；测试记录更新：将完成测试用例自动选择与执行的测试接口编号追加到已测试接口编号列表中；测试完整性检查：测试接口全部检测完成，测试结束。本发明的大规模集成电路测试方法，安全性好，测试效率高。