一种基于多峰点现象的非均匀等离子鞘套分布微波反射诊断方法和系统

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一种基于多峰点现象的非均匀等离子鞘套分布微波反射诊断方法和系统
申请号:CN202510170226
申请日期:2025-02-17
公开号:CN120009831B
公开日期:2025-09-26
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于多峰点现象的非均匀等离子鞘套分布微波反射诊断方法和系统,该方法通过采用多层双高斯分布构建非均匀等离子体鞘套电子密度空间分布模型,使用等效传输矩阵建立等离子体鞘的反射函数,对反射函数进行多高斯拟合并提取拟合曲线中的关键特征,将关键特征作为神经网络的输入对等离子鞘套空间分布参数进行诊断;系统用于实现该方法;本发明通过特征提取技术不仅实现了对反射数据的降维,去除了冗余信息和噪音,提高了数据处理的效率,而且通过构建反向传播神经网络,仅需关注最关键的特征,减少了训练时间和计算负担,同时提升了预测结果的准确性和鲁棒性。
技术关键词
等离子鞘套 诊断方法 微波 曲线 非均匀等离子体 表达式 高斯拟合函数 矩阵 频率 特征提取技术 参数 神经网络训练 特征提取模块 飞行器 数据 诊断系统 诊断模块 真空 电子
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