一种基于掩星观测的等效全球平均TEC计算方法及装置

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正文
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一种基于掩星观测的等效全球平均TEC计算方法及装置
申请号:CN202510170773
申请日期:2025-02-17
公开号:CN119644374B
公开日期:2025-04-15
类型:发明专利
摘要
本发明公开一种基于掩星观测的等效全球平均TEC计算方法及装置,方法包括:获取待计算参考时刻前后各预设时段内由掩星事件计算得到的VTEC特征参数;将所述VTEC特征参数输入训练后的神经网络模型,输出对应参考时刻的等效全球平均TEC。本发明利用全球的掩星观测来计算与全球平均TEC等效的参数,即等效全球平均TEC参数,简化了全球平均TEC的计算流程。
技术关键词
电离层垂直总电子含量 神经网络模型 计算方法 地图产品 序列 时间段 数据获取模块 格网 计算机 处理器 指令 存储器 电子设备 程序 参数
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