基于改进分类器模型的固态硬盘剩余寿命分析方法及系统

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基于改进分类器模型的固态硬盘剩余寿命分析方法及系统
申请号:CN202411730805
申请日期:2024-11-29
公开号:CN119226984B
公开日期:2025-03-18
类型:发明专利
摘要
本发明涉及数据分析技术领域,发明了一种基于改进分类器模型的固态硬盘剩余寿命分析方法,包括:对硬盘监控数据进行异常值筛除以及时序平滑插值操作,得到硬盘数据序列;对硬盘数据序列进行数据标准化操作,得到标准数据序列,并对标准数据序列进行多通道特征提取以及互信息降维操作,得到硬盘属性特征序列;对硬盘属性特征序列进行双向时序编码以及全局注意力编码,得到硬盘属性时序特征;对硬盘属性时序特征进行变分故障分类以及故障标注以及时序膨胀卷积,得到标准时序特征,并对标准时序特征进行寿命分析,得到硬盘剩余寿命。本发明还提出一种基于改进分类器模型的固态硬盘剩余寿命分析系统。本发明可以提高寿命分析的精确度。
技术关键词
时序特征 寿命分析方法 分类器模型 固态硬盘 数据 特征序列组 硬盘监控 硬盘故障 寿命分析系统 硬盘健康状态 变换算法 监控日志 校验算法 邻域 多通道 时序分析模块
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