一种SNV检测数据处理方法

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一种SNV检测数据处理方法
申请号:CN202510176139
申请日期:2025-02-18
公开号:CN119673274B
公开日期:2025-05-13
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种SNV检测数据处理方法,包括以下步骤:S1、数据预处理:获取每个基因检测位点的荧光信号值,并计算每个芯片位点的log2 ratio值;S2、内部质控:将获取芯片上的质控位点的log2 ratio数据与大样本数据建立的“标准线”分别作为“X”和“Y”建立线性回归方程;S3、分型阈值建立:用标准品建立检测位点的分型阈值;S4、服务分析模板判读:将测试样品的基因检测位点用S2建立的线性回归方程进行log2 ratio校正,并依据测试样品的基因检测位点校正后最终ratio数值与分型阈值进行基因型分型,本发明是一种SNV芯片数据处理流程,以实现对SNV芯片数据的高效、准确分析。
技术关键词
线性回归方程 检测数据处理方法 测试样品 位点 基因型分型 信号值 数值 芯片 荧光 校正方法 模板 样本 逻辑
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