缺陷分类方法和装置

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缺陷分类方法和装置
申请号:CN202510178248
申请日期:2025-02-18
公开号:CN120259723A
公开日期:2025-07-04
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种缺陷分类方法和装置,属于工业检测技术领域。所述缺陷分类方法包括:获取采集到的待测对象对应的待测图像,与提示图像库中各第一提示图像之间的特征相似度;基于各所述特征相似度,获取多张所述第一提示图像中目标提示图像对应的目标缺陷类别;将所述目标缺陷类别确定为所述待测对象的缺陷类别。本申请的缺陷分类方法可以适应多样化和复杂化的缺陷模式,可以在保留特征多样性的基础上,降低存储需求和计算时间,且使用提示图像库进行缺陷分类,无需依赖大量的标注数据,所消耗的计算资源较少,性能较稳定,缺陷分类的精确度较高。
技术关键词
缺陷类别 缺陷分类方法 机器学习算法 图像库 非暂态计算机可读存储介质 缺陷分类装置 待测对象 工业检测技术 保留特征 近邻算法 聚类 处理器 存储器 电子设备 模块 程序 模式
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