预浸料铺层的缺陷检测方法、系统及计算机存储介质

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预浸料铺层的缺陷检测方法、系统及计算机存储介质
申请号:CN202510182112
申请日期:2025-02-19
公开号:CN120374495A
公开日期:2025-07-25
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种预浸料铺层的缺陷检测方法、系统及计算机存储介质,缺陷检测方法包括对待检测预浸料铺层进行变频热激励,后采集其红外锁相图转化为红外锁相灰度图;对红外锁相灰度图进行边界识别,后以灰度阈值为约束条件对其进行图像分割,得到划分灰度区域的红外锁相灰度图;对大于灰度阈值的灰度区域进行形状识别,得到含奇异点和/或边缘曲线的区域,进而得到待检测预浸料铺层的缺陷类型和缺陷区域的总面积。本发明采用线性增加的变频红外激励源对预浸料铺层进行激励,能够激发出不同深度的缺陷信息,使近表面和较深层的缺陷所辐射的红外信号均能够被外部探测器探测到,解决了现有技术中红外锁相方法难以检测到深部缺陷的问题。
技术关键词
缺陷检测方法 热激励 预浸料铺层 脱粘缺陷 线条 识别模块 计算机存储介质 图像分割 曲线 小波分析方法 缺陷检测系统 边缘检测算法 锁相方法 加权平均法 分层缺陷 热源 可读存储介质 灰度特征
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