一种X-射线荧光能谱仪测定锰硅合金中硅锰磷的方法

本发明涉及一种X‑射线荧光能谱仪测定锰硅合金中硅锰磷的方法，通过X‑射线荧光能谱仪的X‑射线照射压样完成的样片，激发待测样品中待测百分含量的化学元素，使其元素原子受到激发后，放射出各自特征的X荧光，通过测量不同元素荧光激发能量的强度，再通过建立该元素X荧光强度与含量的数学模型，最终得出被测样品中各种元素的百分含量，本发明的有益效果：能够快速、稳定、准确地检测锰硅合金中的硅锰磷含量，无需化学药品，直接通过研磨碎的粉末压片分析，具有分析速度快、检测周期短，准确度高、无人为误差、无材料消耗、简单易操作、无污染物排放、环保安全。