一种电子元器件空洞检测方法、系统及存储介质

本发明涉及器件检测领域，更具体地，涉及一种电子元器件空洞检测方法、系统及存储介质，其中方法包括：获取待检测电子元器件图像，根据待检测电子元器件图像进行感兴趣区域检测得到感兴趣区域；将感兴趣区域划分为多个不同的图像块，并筛选出含空洞的图像块；对含空洞的图像块进行定位，以实现空洞像素级检测。本方法将感兴趣区域划分为不同的图像块，用于后续的检测，从而解决灰度分布不均匀的问题，进而在图像块的基础上进行空洞检测和定位，实现更识别效果更好的空洞检测。