发热缺陷检测方法、装置、非易失性存储介质及电子设备

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发热缺陷检测方法、装置、非易失性存储介质及电子设备
申请号:CN202510185129
申请日期:2025-02-19
公开号:CN120125524A
公开日期:2025-06-10
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种发热缺陷检测方法、装置、非易失性存储介质及电子设备。其中,该方法包括:对包括电力设备的红外图像进行边缘特征提取,得到边缘轮廓;对红外图像进行红外特征提取,得到特征向量;采用哈希函数,对特征向量进行降维映射,得到目标哈希码;基于边缘轮廓内部包括的第一像素点进行温度提取,得到温度特征;基于目标哈希码,以及温度特征,确定电力设备的发热缺陷检测结果。本申请解决了相关技术中存在的发热缺陷检出效率不理想的技术问题。
技术关键词
边缘轮廓 非易失性存储介质 缺陷检测方法 电力设备 图像 像素点 峰值信噪比 特征提取模块 滤波 缺陷检测装置 模板 耦合电容器 电子设备 巡检机器人 红外摄像头 高压套管 电压互感器 汉明距离
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