电路输入/输出(I/O)测试系统

本公开涉及一种电路输入/输出I/O测试系统。一个实例包含电路(200)。所述电路(200)包含：电路芯(202)，其配置成执行操作功能；及扫描链寄存器(218)，其配置成传播从自动测试图案产生器ATPG产生的输入到所述电路(200)的一组系统芯片SoC扫描数据，以在所述SoC扫描数据的每一移位处设置所述电路芯(202)的不同装置状态。所述电路(200)进一步包含各自包括双向I/O控制(222)和测试逻辑(224)的多个双向输入/输出I/O电路(206)，所述测试逻辑(224)配置成在所述一组SoC扫描数据的每一移位处经由引脚参数测量单元PPMU交替地促进所述相应双向I/O控制(222)的I/O焊盘(220)的输入参数测试和输出参数测试。