单晶硅组件性能确定方法、装置、设备及存储介质

本发明提供一种单晶硅组件性能确定方法、装置、设备及存储介质，涉及电池组技术领域。该方法包括：从历史数据库中获取多个单晶硅组件数据集；通过聚类算法将多个单晶硅组件数据集进行聚类，得到多个聚类簇，并根据每个单晶硅组件数据集所属的聚类簇确定每个单晶硅组件数据集对应的组件等级；基于每个单晶硅组件数据集和每个单晶硅组件数据集对应的组件等级，训练并得到单晶硅组件性能确定模型；将待确定组件等级的目标单晶硅组件的单晶硅组件数据集输入单晶硅组件性能确定模型，得到目标单晶硅组件的组件等级。本发明能够通过多维度的数据评估单晶硅组件的性能，以克服传统单一使用封装损失率评估组件性能的局限性。