一种集成电路最差性能处理方法

本申请公开了本申请提出了一种集成电路最差性能处理方法，涉集成电路领域，包括：采用修正的正态分布累积分布函数CDF来描述失效率与电路性能之间的非线性，引入偏斜度参数和峰度参数；对采样点进行权重计算，突出失效边界附近的重要样本，并在局部区域内采用加权最小二乘回归构建局部线性模型。在全局尺度上，通过对采样矩阵进行对数变换，将特征分布从非线性转化为近似线性，并采用正交匹配追踪算法构建稀疏的全局线性模型，提高了模型的泛化能力和解释性。最后，该方法以修正高斯函数计算的6σ处电路性能预测值为目标，根据最差性能点的位置，灵活选择全局或局部线性模型作为约束条件，迭代求解最优解，有效平衡了估计精度和计算效率。