一种基于PSO-KF算法的芯片测试结果实时补偿方法

一种基于PSO‑KF算法的芯片测试结果实时补偿方法，属于集成电路测试技术领域，解决如何提高集成电路测试的准确性和稳定性的问题，本发将采集到的原始测量数据输入卡尔曼滤波器中进行初步滤波处理；基于测量数据和环境噪声的实时变化，采用粒子群优化算法对卡尔曼滤波器中的噪声参数进行优化；粒子群优化算法在获取每次测量数据后进行噪声参数的更新，并将最优参数重新应用于卡尔曼滤波器中，从而实现对测量数据的实时补偿；基于补偿后的数据评估良率，并且数据会反馈给粒子群优化算法，用于下一次迭代优化，确保卡尔曼滤波器能自适应噪声变化，保持最佳补偿效果，本发明的技术方案提升了芯片测试的精度、良率及产品质量。