一种芯片监测方法、装置、电子设备及存储介质

本公开提供了一种芯片监测方法、装置、电子设备及存储介质，所述方法包括：采用本公开实施例提供的芯片监测方法，基于预设射频信号确定目标芯片的特征频率，特征频率为表征目标芯片的计算单元产生量子状态变化的频率，获得目标芯片的计算单元在不同量子状态下的相位空间位置分布信息，基于相位空间位置分布信息，确定计算单元的目标量子状态与其他量子状态之间的相干特征，基于特征频率和相干特征确定目标芯片的温度。采用该方法可以实现芯片温度的监测，从而可以实时确认量子芯片的状态，避免了量子芯片在非稳定状态的最低温度下工作，提高了量子芯片的运行寿命。