一种基于多模态感知与智能决策的半导体晶圆制造系统

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一种基于多模态感知与智能决策的半导体晶圆制造系统
申请号:CN202510206445
申请日期:2025-02-25
公开号:CN120194695A
公开日期:2025-06-24
类型:发明专利
摘要
本发明属于工业自动化领域,聚焦工业机器人于半导体晶圆制造领域,提出基于多模态感知与智能决策的系统。借助在机器人及设备上集成多种传感器,运用多传感器融合、多模态数据融合、多物理场监测等技术,结合动态轨迹规划、深度学习、自适应控制、强化学习以及数字孪生与虚拟仿真等算法,实现晶圆高精度搬运、表面缺陷快速检测、薄膜沉积工艺优化、多机器人协同调度以及制造工艺整体优化,解决现有技术在晶圆制造中的精度、效率和质量难题。
技术关键词
半导体晶圆 算法模块 多模态数据融合 薄膜沉积工艺 缺陷快速检测 工业机器人 决策 轨迹规划算法 数字孪生模型 调度算法 强化学习算法 多源信息融合技术 物理 多传感器融合技术 多传感器数据融合
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