一种加速试验产品的寿命预测方法、装置和电子设备

本发明公开了一种加速试验产品的寿命预测方法、装置和电子设备，该方法基于故障数据，开展典型失效机理分析，以确定目标产品的关键器件和敏感应力。对关键器件相关的故障数据进行聚类分析，确定各个敏感应力对目标产品的失效贡献率。根据各个敏感应力对应失效贡献率，开展目标产品的多应力加速寿命试验。采用多应力加速寿命试验的试验数据，对神经网络模型进行训练。利用训练好的神经网络模型，预测目标应力条件下目标产品的加速试验寿命，实现了对加速试验产品的寿命预测，该方法基于故障物理，利用多应力加速寿命试验对神经网络模型进行训练，重视环境应力之间耦合作用对产品的影响，使得模型更加符合产品实际应用过程，提高了寿命预测的精度。