一种基于噪声模型的扫描电子显微镜图像去噪方法

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一种基于噪声模型的扫描电子显微镜图像去噪方法
申请号:CN202510219767
申请日期:2025-02-26
公开号:CN120147172A
公开日期:2025-06-13
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于噪声模型的扫描电子显微镜图像去噪方法,通过分析扫描电子显微镜SEM的成像原理,构建SEM噪声模型;对待去噪SEM图像进行噪声参数拟合,获得噪声参数,并生成模拟噪声图像;对CNN去噪网络进行训练,将再次加噪后的图像作为其中一个通道,另一个通道是模拟噪声图像,通过双通道并行的形式送入CNN去噪网络的输入端,输出端是待去噪SEM图像,直至CNN去噪网络收敛;将待去噪SEM图像和模拟噪声图像一同送入收敛后的CNN去噪网络,实现SEM图像去噪。该方法能够在去除SEM图像大量噪声的同时,有效保持原始SEM图像的结构,在不需要干净数据的前提下有效去除SEM图像噪声。
技术关键词
扫描电子显微镜 噪声模型 图像去噪方法 噪声参数 生成模拟噪声 噪声样本 网络 像素 数学 成像 图像分割 通道 直线 输入端 表达式 强度 定义
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