芯片测试系统

本发明提供了一种芯片测试系统，包括：主控模块、恒流源模块、N个第一模拟开关模块、N个第二模拟开关模块以及信号采集转换模块；主控模块包括第一数模转换单元和第二数模转换单元；恒流源模块的输入端与第二数模转换单元连接，恒流源模块的输出端和第一数模转换单元通过第一选择开关与N个第一模拟开关模块连接，通过切换第一选择开关可向待测元件提供模拟交流信号或模拟直流电流信号；信号采集转换模块的输入端与N个第二模拟开关模块连接，信号采集转换模块的输出端与主控模块连接。本发明该测试系统集成性高，体积小，便于携带，无需购买多台设备搭建测试系统。既可以进行模拟交流信号测试，又可以进行模拟直流电流信号测试。