一种用于SoC芯片的测试方法及计算机可读存储介质

本发明提供的一种用于SoC芯片的测试方法，所述SoC芯片包括CPU、FPGA以及UART模块，所述测试方法包括芯片PL侧测试以及芯片PS侧测试；所述UART模块输入PL侧测试数据流加载条件，所述CPU解析PL侧测试数据流加载条件，在决定加载PL侧测试数据流后，判断所述数据流来源是否为所述UART模块，并在所述测试数据流的来源为所述UART模块时，通过系统总线将所述测试数据流从所述UART模块加载至FPGA内；所述测试数据流的来源非所述UART模块时，系统从存储模块寻找测试数据流并通过DMA传输模式加载至FPGA内；完成PL侧测试或者CPU决定不加载PL侧测试数据流时，系统执行PS侧测试，本发明还提供了一种计算机可读存储介质。